• Luminex xMAP INTELLIFLEX System 製品画像

    Luminex xMAP INTELLIFLEX System

    PR【キャンペーン実施中】迅速でコストパフォーマンスに優れたイムノアッセイ…

    Luminex xMAP INTELLIFLEX Systemは、コンパクトで広いダイナミックレンジを実現します。タッチスクリーンのユーザーインターフェースを備え、スタートアップ、シャットダウン、メンテナンスが自動化されているため使いやすく、メンテナンスも簡単。この他、2つのパラメーターで測定可能なDR-SEモデルをはじめ、Luminex 200 Instrument System、Luminex...

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    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • 溶接可視化システム 製品画像

    溶接可視化システム

    波形の動きに対して、その瞬間に何が行ったのかを視覚的に確認することが可…

    通常モード:約1.36秒(20,000fps、1,280x624pixel、32GB、12bit時) <解析部> ■アナログ波形データ収集装置 Midi LOGGER GL-2000/980 ・サンプリング間隔:1μs~1min ・外形寸法:約(W)250×(H)161×(D)80mm ・重さ:約1.4kg ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ナックイメージテクノロジー

  • 変位挙動【ハイスピードカメラ応用例】 製品画像

    変位挙動【ハイスピードカメラ応用例】

    複雑形状や回転体などへの対応が可能!レポート機能により、業務の効率化に…

    効率化に貢献します。 【特長】 ■非接触多点計測:計測可能なマーカ数は300個以上 ■3次元計測:2台のハイスピードカメラでマーカをステレオ撮影し、  三角測量の原理で計測 ■高速サンプリング:最高112万コマ/秒で詳細に計測 ■CATIA、IGES、STEPなど3DCADデータのインポート可能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ナックイメージテクノロジー

  • ひずみ・変形【ハイスピードカメラ応用例】 製品画像

    ひずみ・変形【ハイスピードカメラ応用例】

    歪量と3次元変位量を計算!材料物性値が要求されるアプリケーションにお応…

    】 ■非接触歪み計測:金属、樹脂、繊維など幅広い材料で歪み計測可能 ■3次元計測:2台のハイスピードカメラで、塗布されたランダムパターンの  位置変化と形状変化を捉えて歪量を計測 ■高速サンプリング:最高112万コマ/秒で詳細に計測 ■容易な計測作業:亀裂の状況と歪み分布をグラフィカルに比較 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ナックイメージテクノロジー

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