• 平面枚葉検査装置『PIE-650M』 製品画像

    平面枚葉検査装置『PIE-650M』

    高精度な欠陥検出を省スペースで実現。製品の品質向上、作業の効率化、省力…

    『PIE-650M』は、微細な欠陥から濃淡差の小さい欠陥まで高速、高精度に 検出することができる平面枚葉検査装置です。 搬送部はリニアモータによる搬送ロボットで、安定した搬送が可能。 異なる光学系の検査を一台で実現します。 フィルム、ガラス、金属箔、積層板、樹脂、銅板、鋼板、不織布、ゴム、 食品などの検査にご使用いただけます。 【特長】 ■多様な欠陥検出が一台で可能 ■...

    メーカー・取り扱い企業: 池上通信機株式会社 営業本部

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