COF/TAB 自動検査装置

光速度画像フーリエ変換差分法による、高速高精細検出処理！独創技術採用の…

理的に基板の位置決めに 厳密な精度を必要としません。 また、良品、不良品の自動穴あけ、刻印が可能なほか、不良内容の拡大モニタ 表示とログの保存ができます。 【特長】 ■光速度画像フーリエ変換差分法による、高速高精細検出処理 ■製造ラインに合わせた検査が可能 ■基準画像となるマスター作成時間：10分 ■基板テープ送り機構の簡素・単純化が可能 ■原理的に基板の位置決めに厳密な...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社高度技術研究所

分光式薄さ計『AccureS』

分光干渉方式による薄膜の高精度測定を実現！3層までの多層測定に対応可能

『AccureS』は、分光干渉方式による薄さ測定器です。 測定部が幅方向にトラバースし、1mmピッチのデータを測定・表示。 解析方法はカーブフィッティング法とFFT（高速フーリエ変換）法の 2パターンを使用でき、素材に合わせて好適な解析法を選択できます。 照射部と受光部が一体となった1軸駆動のため、測定部のサイズが小さく コンパクトです。 【特長】 ■1...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ヒューテック