FT-IR分光計『INVENIO S』

ブルカーの革新技術で生産性向上！お客様のFT-IR分析を最大限に活用し…

『INVENIO S』は、日常分析やラボでの 高度な分析における効率性の最大化を重視した、FT-IR分光計です。 SoC (system-ona-chip) エレクトロニクス、高精度な光学系、そして 総合的に高度な設計品質により、優れた赤外測定感度を実現しています。 また、当製品は様々なIRアプリケーションに適合。 試料のタイプにかかわらず、最適化されたアクセサリと拡張機能が、 ...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

ガス分析装置　MATRIX-MG／OMEGA5

■アンモニア測定■低濃度～高濃度までフルレンジで測定可能！

アンモニアの低濃度から高濃度までフルレンジで測定可能な分析装置は、今までほとんどないと言われていました。 ブルカーの装置は、フルレンジ測定に対応しています。 【OMEGA5】 19インチラック対応のコンパクトボディに、工業用ガスの測定に 適した光路長5mの多重反射型ガスセルを搭載したガス分析用FT-IRシステムです。 ガス濃度を高精度かつリアルタイムで自動的にモニタリングできるように...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

フーリエ変換近赤外分光計（FT-NIR）『MPA II』

液体・固体・半固体など様々な試料の測定に対応！迅速かつ高精度な分析が可…

『MPA II』は、液体・固体・粉体・錠剤・カプセルなど様々な試料の 定性・定量分析を1台で行えるフーリエ変換近赤外分光計（FT-NIR）です。 前処理なく短時間（計測時間1分以内）で高精度な分析が行え、生産性向上に寄与します。 多くの光学系オプションやサンプリングアクセサリをご用意しております。 品質管理やメソッド開発等、多目的に使用いただける分光計です。 サンプリングアクセサ...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部