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    インライン成分分析セミナー無料ご招待【6/19・20開催】

    PRなぜ、インライン分析がいま重要なのか?人手不足や労働時間規制に対応する…

    無料オンラインセミナーのご招待です。 フォスのインライン成分分析装置について深掘りし、 製造プロセスの最適化と生産性の向上にどのように寄与するかをご紹介。 技術トレンドや、各業界でお使い頂けるアプリケーションを中心とした活用事例や応用例も紹介し、 人手不足や労働時間規制に対応するための製造プロセス改善のヒントを得られます。 乳業や食肉、飼料、穀物分野などの担当者の方に特におススメのセ...

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    メーカー・取り扱い企業: フォス・ジャパン株式会社

  • 【書籍】造粒プロセスの最適化と設計・操作事例集(No.2227) 製品画像

    【書籍】造粒プロセスの最適化と設計・操作事例集(No.2227)

    PR【試読できます】★ 各種造粒のメカニズム、プロセス、操作パラメータ設定…

    ★ シミュレーション、AIを駆使した造粒プロセス最適化、連続生産システムの構築! --------------------- ■ 本書のポイント ● 造粒のスケールアップに必要な操作パラメータの適切な設定 ● 造粒装置・操作におけるトラブルと対策 ● 造粒物の粒度分布・粒子径・流動性・付着性の評価 ● 造粒のリアルタイムモニタリング、固形製剤連続生産システムの構築 ......

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社技術情報協会

  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池内部の非破壊観察 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池内部の非破壊観察

    X線CTによる観察事例

    む現象が発生することがあります。この現象が発生した電池を調査する場合、内部に溜まったガスや電解液等による反応が懸念され、加工には危険を伴うことから非破壊で内部の構造を確認する必要があります。 本事例では充放電を繰り返したリチウムイオン二次電池の内部をX線CTを用いて観察しました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】IGZO 薄膜の結晶性・膜密度評価 製品画像

    【分析事例】IGZO 薄膜の結晶性・膜密度評価

    酸化物半導体のXRD・XRR分析事例

    成・酸素欠損の有無・結晶性で大きく特性が変化する材料でもあり、膜質との相関を考慮することが重要です。加熱温度の異なる3種類のIGZO薄膜の結晶性・膜厚・膜密度をXRD・XRRにて測定し、比較を行った事例をご紹介します。高温では結晶化が進み、膜密度が高くなっている様子を非破壊で確認することができました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】IGZO薄膜のXAFSによる局所構造解析 製品画像

    【分析事例】IGZO薄膜のXAFSによる局所構造解析

    酸化物半導体中、金属元素の価数・配位数・構造秩序性の評価

    びその局所構造を、放射光を用いたXAFS解析によって明らかにすることでIGZO成膜メカニズムに関する知見を得ることが可能です。 Zn-K 端XAFSスペクトルよりIGZO薄膜の局所構造解析を行った事例を紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】IGZO(粉末・バルク・薄膜)の組成・不純物分析 製品画像

    【分析事例】IGZO(粉末・バルク・薄膜)の組成・不純物分析

    主成分及び金属不純物元素の定量分析

    成や膜中の不純物量で特性が変化する材料であり、組成・不純物の情報を得ることは重要です。 今回は薄膜の原料であるIGZO粉末の主成分及び金属不純物元素量について、ICP-MSを用いて高精度に評価した事例を紹介します。粉末に限らずバルク・薄膜でも分析可能です。...

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  • 【分析事例】IGZO膜の局所結晶構造解析 製品画像

    【分析事例】IGZO膜の局所結晶構造解析

    電子回折で結晶性・配向性を連続的に評価

    す。 薄膜中の結晶構造の有無はTFT特性や信頼性に影響する可能性があり、デバイス中における局所的な結晶評価が必要になります。 TEMの電子回折測定を用いてIGZO膜中の結晶構造を連続的に評価した事例をご紹介します。...

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  • 【分析事例】IGZO膜へのTi拡散評価 製品画像

    【分析事例】IGZO膜へのTi拡散評価

    SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定

    が懸念されるため、IGZO膜を用いたデバイス特性および信頼性評価には膜中の金属濃度を精度良く測定する必要があります。 SSDP-SIMSを用いて金属電極の反対側からIGZO膜中のTi濃度を評価した事例をご紹介します。...

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  • 【分析事例】IGZO膜中H濃度評価 製品画像

    【分析事例】IGZO膜中H濃度評価

    IGZO膜中Hについて、高感度で深さ方向分布の評価が可能

    度が変化して電気特性が変動するため、IGZO膜を用いたデバイス特性および信頼性評価には膜中のH濃度を精度良く測定する必要があります。 SIMSを用いて加熱条件の異なるIGZO膜中のH濃度を評価した事例をご紹介します。...

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  • 【分析事例】IGZO膜の化学状態評価 製品画像

    【分析事例】IGZO膜の化学状態評価

    XPS・UPSを用いた結合状態・電子状態評価

    から構成されるため、プロセスによってどのように組成や結合状態、電子状態がどのように変化するかを把握しておくことが重要です。 XPS・UPSを用いてIGZO膜表面の組成・結合状態・電子状態を評価した事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】CIGS薄膜太陽電池の結晶粒と抵抗評価 製品画像

    【分析事例】CIGS薄膜太陽電池の結晶粒と抵抗評価

    同一箇所における抵抗分布と結晶粒・結晶粒界評価

    SSRMでは局所抵抗に関する知見を、EBSDでは結晶粒・粒界に関する知見を得ることができます。 EBSD測定と同一箇所でSSRM 測定を行うことで、結晶粒界部を含んだ領域の局所抵抗を測定しましたので紹介いたします。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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