半導体デバイスアナライザ　1kHz～2MHz C-V特性

設計周波数は1kHz～2MHzで、VGS電圧は±40Vに達し、VDS電…

【製品概要】 半導体デバイス C-V特性アナライザ TH510シリーズは、半導体材料およびコンポーネントの設計と研究のために設計された分析装置です。 デュアル CPU アーキテクチャ、Linux 基盤システム、10...

メーカー・取り扱い企業： ウェーブクレスト株式会社

ソースメジャーユニット（SMU）高精度ソース/測定ユニット

半導体、アクティブ/パッシブ デバイス、およびその他のさまざまなデバイ…

に IV 機能テストを完了できるため、テスト効率が大幅に向上します。 TH1991/TH1992 シリーズの高精度ソース/測定ユニットは、包括的で統合された電力および測定機能を備えており、半導体、アクティブ/パッシブ デバイス、およびその他のさまざまなデバイスや材料のテストに最適です。 R&D および教育アプリケーション、産業開発、テストおよび製造で広く使用されています。...

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部分放電試験セット

ピーク電圧18.3 kVまでの試験電圧に対応

部分放電試験システムTTSは、VDE 0884、IEC 60747-5-5、UL1 577に準拠したルーチン試験における半導体（オプトカプラ、デジタルアイソレータ）の高電圧（HI-Pot）および部分放電試験用に特別に開発されました。部分放電試験システムは、ピーク電圧18.3 kVまでの試験電圧に対応しています 部分放電...

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ラインインピーダンス安定化ネットワーク　 V-Y-Δ DC

9 kHz ～ 30 MHz の範囲内の DC ライン上の伝導放出を測…

30 MHz の範囲内の DC ライン上の伝導放出を測定するためのライン インピーダンス安定化ネットワークです。このデバイスは、最大 1000 V および 32 A までの DC 電源電圧を備えた半導体電力コンバータおよび同様の機器の DC 電源ポートでの妨害電圧をテストするように設計されています。伝導放出は、順方向および戻り供給ラインで測定できます。さらに、フロント パネルのロータリー スイッ...

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