• 電子顕微鏡での受託観察 製品画像

    電子顕微鏡での受託観察

    走査型電子顕微鏡(FE-SEM)による表面観察を受託いたします:分解能…

    ■試料をお送り頂きますと、試料台作成~画像撮影~画像ファイル(jpeg)変換を行い、お送り致します。 ■格安料金を設定しておりますので、ぜひご利用下さい。 ...【主要設備】 ・設備(機械名):走査型電子顕微鏡(FE-SEM) S-4000(日立) ・主な仕様  倍率: ×100~300,000倍 (~100,000までは保証範囲)  試料台サイズ: 15mm(径)  加速電圧:...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社魁半導体

1〜1 件 / 全 1 件
表示件数
15件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • 1204_ipros_300_300.jpg
  • 1216_ipros_300_300_2046613.jpg