【事例で解説】外観検査システムの課題と限界

汎用の検査装置では検知できない微細で複雑な欠陥について、実際に当社が行…

難しい電子回路基板のパターン欠陥について、当社で独自開発した検査手法をご紹介します。 ・複数光学条件が必要な外観検査自動化における課題 対象物に対して様々な欠陥検出が必要な検査において、複数照明条件を 利用するケースがございます。最新の照明装置を用いた検査技術をご紹介しております。 ・画像処理検査URCPのご紹介 画像処理検査URCPとは、ハードウェアとソフトウェアの両面から画像...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム