TVホログラフィー振動変位解析システム　「MEMSMap510」

MEMS 試験やR&D 用のオールイン・ワンシステム

外振動（Out-of-Plane）を測定します。MEMS構造のモデリングや設計ではその微細構造の挙動が大きい構造物と異なるために解析は難しくなります。ダイナミックデバイスでは振動モードが熱の影響、空気圧変化や境界条件によりある周波数から別の周波数に急にシフトすることがあります。このため静的変形と振動の両方に関する面全体でのリアルタイムの情報が必要になります。「MEMSMap510」はマイクロスト...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社シスコム（SysCom）