蛍光X線式膜厚計『EX-851』

2つの測定モードを選択し、測定作業をよりスムーズに！蛍光X線式膜厚計の…

『EX-851』は、今までの膜厚計とは別の機構のステージを採用し、 ステージのなめらかな移動を実現した蛍光X線式膜厚計です。 フルオートフォーカスモードでは、レーザーポインタ照射位置に測定物を セットし、ドアを閉めるとステージが自動で移動、測定までを自動で行います。 測定台の動きがよりスムーズになり、ステージ移動の際のイライラを解消。 現行製品の50倍の移動精度を実現します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社電測

蛍光X線式膜厚計『EX-731』

優れた操作性で極微小部を最高の精度で測定できる膜厚計！

『EX-731』は、原子番号22(Ti)以上の金属の膜厚を測定する蛍光X線式膜厚計です。 二層めっき、三層めっき各々の膜厚の同時測定や、 合金皮膜の膜厚・組成同時測定も可能です。 ニューメリックフィルタの他に、2種類のメカニカルフィルタを 標準で装備しているので、Cu上のNi皮膜やZn上のCu皮膜なども 高精度で測定が可能です。 【特長】 ■ダブルフィルタ採用 ■報告書...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社電測

薄膜の連続監視に！非破壊分析のライン組込式蛍光Ｘ線分析装置。

自在にカスタマイズできる、ライン組込式蛍光Ｘ線分析装置！　フィルムのコ…

当社の非破壊分析技術を生かした、 ライン組込式エネルギー分散型蛍光X線分析装置 「OURSTEX100TA-F」をご紹介いたします。 成膜装置へ組込めば、フィルム上に成膜された 物質の連続膜厚測定、連続組成分析が可能になります。 フィルム本体や樹脂に含まれる成分の連続分析・測定も可能です。 流体の組成の連続モニタリングにも応用可能です。 カスタマイズにより、モニタリング対象元...

メーカー・取り扱い企業： アワーズテック株式会社

カラーX線カメラ（CXC）

pnCCDによるイメージング・スペクトロメトリー 仁木工芸株式会社 …

CXCは独国PN Detector社のカラーX線カメラ（CXC）です。 Full Field XRF測定、エネルギー分散型小角X線散乱、蛍光X線とX線回折の同時測定、顔料等の材料分析などのアプリケーションに有用です。 ...Physical pixel size : 48x48μm pixel数：264ｘ264 image area/264 X 528 full frame mode Ac...

メーカー・取り扱い企業： 仁木工芸株式会社

卓上型X線回折装置（XRD）　Aeris（ エアリス）

【2021年透過測定・薄膜測定オプション登場】卓上型X線回折装置(XR…

スペクトリス(株)マルバーン・パナリティカル事業部は、卓上型粉末X線回折装置Aerisで、この度大きく機能を追加したリニューアルモデルを発売しました。 薄膜XRD（GIXRD）測定の機能拡張により、薄膜やコーティング材料の結晶性や残留応力の測定が可能になったほか、透過率測定機能の拡張により、サンプル前処理時の配向の影響を低減し、製剤試料のような試料でも、より正確なデータが得られるようになりま...

メーカー・取り扱い企業： スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル事業部

オールインワン蛍光Ｘ線分析装置 Zetium

波長分散型(WD)とエネルギー分散型(ED)両方のコアテクノロジを1台…

複数のX線技術（WDX/EDX/XRD）を1台に統合。 Zetium は､軽元素を高感度に分析可能な波長分散と､高速分析･微小部分析に適したエネルギー分散の技術を1つのプラットフォームに搭載することを実現。 軽元素を得意とするWDXの光学系と、重元素を高分解能に検出するEDXの光学系との同時読み取りにより、 従来のWDXのみの装置では困難であった最適な測定条件を提供します。 ●...

メーカー・取り扱い企業： スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル事業部

デスクトップ型EDX装置 Epsilon 4

高速で正確なアットラインの元素分析を実現！ 高性能デスクトップ型 …

Epsilon 4は、従来機に比べ測定感度を向上させたエネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置（EDXRF）です。 R&Dからプロセス管理の分野で、大気もしくはHeガス雰囲気下で炭素(C)またはフッ素(F)からアメリシウム(Am)まで元素分析が必要な様々な業界に対応する多機能装置です。 最新の励起/検出技術と完成された分析ソフトウェアが融合し、 スマートにデザインされたEpsilon 4の分...

メーカー・取り扱い企業： スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル事業部