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HIGH SPEED SWEPT SOURCE を用いたプローブ型OC…
望に合った装置構成とソフトウェア開発により、ベストなシステムをご提供します。 【特長】 ■ 近赤外線を利用、X線による被ばくの心配無く、非接触で高速測定が可能 ■ 被ばく対策、線源管理や超音波用ジェル使用などの煩雑さが不要 ■ 計測可能深さ:5~10nm、分解能:4~13μm (深さ方向) ■ リアルタイム2D画像の観測で位置決め、シームレスに3D画像計測へ 数秒で1ボリュー...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムズエンジニアリング
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