非接触移動度測定装置『LEI-1610シリーズ』

様々な半導体キャリア輸送特性の測定が可能！マイウロウェーブ反射による非…

触 ■サンプルの前処理不要 ■高速フィードバック ■自動マッピング測定 ■ASTM F76スタンダードに準拠 ■従来の測定方式に比べて、大幅な時間短縮が可能 ■電極形成が不要 ■実際に量産されているウエハを誰にでも簡単に再現性の良い測定が可能 ■磁界制御とソフトウェア処理により、キャップ層がついたままの状態での測定も可能 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社