電子顕微鏡での受託観察

走査型電子顕微鏡（ＦＥ-ＳＥＭ）による表面観察を受託いたします：分解能…

（日立） ・主な仕様 　倍率：　×100～300,000倍　（～100,000までは保証範囲） 　試料台サイズ：　15mm（径） 　加速電圧：　0.5～30ｋV ・機器の概略：試料表面に電子線を照射することで、試料表面からの反射電子を検出することにより、試料表面の形状を観察 ・試料サイズの条件：最大試料サイズ：　15mm（径）×高さ10mm以下 ・対象試料の条件：高分子材料、金属、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社魁半導体