• 電子顕微鏡解析受託サービス※解析事例紹介! 製品画像

    電子顕微鏡解析受託サービス※解析事例紹介!

    ワンストップサービスできめ細かく対応!

    【技術力】日本顕微鏡学会認定、電子顕微鏡技師が実施します。 【対応力】ワンストップサービスできめ細かく対応します。 【スピーディー】高度な解析もスピーディーに対応します。 【コストダウン】弊社に委託頂くことで、お客様の経費削減に...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

  • クライオ電子顕微鏡ハンドブック 製品画像

    クライオ電子顕微鏡ハンドブック

    2017年ノーベル化学賞に輝いたクライオ電子顕微鏡に関する知見を体系的…

    研究者、技術者のためのクライオ電子顕微鏡設置機関とそのサービス内容も紹介...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エヌ・ティー・エス

  • 微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM) 製品画像

    微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM)

    物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

    など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM)】 ○高速電子線を薄く加工された試料に照射し、透過および散乱する電子の結像により拡大像や結晶構造の情報を提供する手法。 ○薄膜の構造、結晶性の評価に適している。また高分解...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 透過型電子顕微鏡 製品画像

    透過型電子顕微鏡

    透過型電子顕微鏡(TEM)でサンプルの微細構造がナノレベルで観察が可能…

    弊社では、高精度なTEM観察用薄片サンプル作製と高度なTEM観察技術から鮮明なサブナノオーダーの構造観察が可能です。...TEM観察 ・ナノオーダーの構造把握や格子像の観察を行います。 ・TEM画像を使用した解析・評価、EDXによる局所的元素分析を行っております。 TEM画像を用いた解析、評価 ・高分解能TEM像による結晶欠陥の解析や歪みマッピング評価を行います。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 電子顕微鏡での受託観察 製品画像

    電子顕微鏡での受託観察

    走査型電子顕微鏡(FE-SEM)による表面観察を受託いたします:分解能…

    【主要設備】 ・設備(機械名):走査型電子顕微鏡(FE-SEM) S-4000(日立) ・主な仕様  倍率: ×100~300,000倍 (~100,000までは保証範囲)  試料台サイズ: 15mm(径)  加速電圧: 0.5~30...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社魁半導体

  • 初心者向けオンライン講座(e-learning)【形態観察】 製品画像

    初心者向けオンライン講座(e-learning)【形態観察】

    形態観察を基礎から学びたい方向きの講座です。 SEM、TEM、球面収差…

    学びたい方向きの講座です。受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。 以下について、易しく、コンパクトに解説しています。 形態観察手法について ・  走査型電子顕微鏡(SEM):原理、試料作製法、分析例 ・  透過型電子顕微鏡(TEM):原理、試料作製法、分析例 ・ 球面収差補正走査透過型電子顕微鏡:原理、分析例 ・ 三次元TEM...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • ※実績多数!生産ライン・工程内異物(クレーム品)調査 製品画像

    ※実績多数!生産ライン・工程内異物(クレーム品)調査

    クレーム品・異物のトラブルの原因究明・問題解決をお手伝い!製薬会社様・…

    異物及びクレーム対応試験を行っております。電子顕微鏡分析・IR分析(有機物分析)・無機元素分析等を行い異物を同定し、トラブルの原因究明や問題解決のためのお手伝いを致します。 対象異物:ガラス、プラスチック、人毛・獣毛、繊維、植物片、金属片、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安全性研究センター

  • 極低加速電圧SEMを活用した医薬品の可視化 製品画像

    極低加速電圧SEMを活用した医薬品の可視化

    最先端の電子顕微鏡観察手法を駆使し、医薬分野のお客様のニーズにお応えし…

    試料の極表面や断面をナノオーダーで電子顕微鏡観察・分析するには、加工によるダメージや汚染のない試料作製技術が不可欠です。 当社は、これまでに培った試料作製技術により最適な方法で試料加工した上で、極低加速電圧走査電子顕微鏡(ULV-SEM...

    メーカー・取り扱い企業: JFEテクノリサーチ株式会社

  • 技術情報誌 201902-01 DPC-STEMを用いたポリマー 製品画像

    技術情報誌 201902-01 DPC-STEMを用いたポリマー

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 走査透過型電子顕微鏡(STEM)の測定手法の一つである微分位相コントラスト(DPC)-STEMは、微小部の電場を測定することが可能である。我々は、本手法をポリマーアロイに適用することで、従来の電子顕微鏡では観察が困...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察 製品画像

    【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察

    金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

    走査イオン顕微鏡(Scanning Ion Microscope:SIM)は固体試料にイオンビームを照射し、発生する二次電子を検出する手法です。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIMによってCuやAlなどの金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を簡便に得ることが可能です。本資料では測定例としてCu表面をSIMによって観察した事例をご紹介します。...詳しいデータ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 非破壊分析サービス 2018年4月より開始のお知らせ 製品画像

    非破壊分析サービス 2018年4月より開始のお知らせ

    樹脂やカーボン素材等、有機系の分析に強い装置を揃えました。

    す。電子デバイス・医薬品・食品の製品開発・品質管理など幅広い分野を対象に分析サービスを提供します。 非破壊分析は、製品を破壊することなく内部の状態を可視化する技術です。 MSTはこれまで電子顕微鏡観察・質量分析等の破壊を伴う分析手法を主として受託サービスを展開しておりましたが、電子デバイスを破壊せず観察したいという顧客ニーズが近年増加しておりました。また、電子デバイス以外の分野においても...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 技術情報誌 202201-01 X線CTを用いた微小液滴 製品画像

    技術情報誌 202201-01 X線CTを用いた微小液滴

    X線顕微鏡は、試料の内部構造をµmオーダーの高空間分解能で非破壊観察で…

    です。 【要旨】 X線顕微鏡は、試料の内部構造をµmオーダーの高空間分解能で非破壊観察できる装置であり、CT(コンピュータートモグラフィ)測定することで三次元形態の観察も可能である。特に電子顕微鏡では困難な、液体と材料の接触状態や、空孔を有する材料内部における液体の存在状態などの評価においては、透過撮像(透視)ができるX線CT測定の適用が、材料微小部の撥水性評価などに有効となる。ここでは...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析 製品画像

    技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 CNFを扱う研究開発のうち、ほぼすべての材料分野、研究フェーズで電子顕微鏡を用いた観察は必要な評価となっている。特にポリマー中に分散するCNFをTEM観察するためには、これまで高分子材料のTEM試料作製を実施する上で不可欠であった「電子染色」の技法を駆使する必要がある...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 機械製品、部品の損傷調査・原因究明サービス 製品画像

    機械製品、部品の損傷調査・原因究明サービス

    損傷を受けた部品を調査することで、損傷原因を明らかに!損傷原因を明らか…

    I検査計測社では、機械製品、部品の損傷調査を実施しています。 【損傷調査の実施方法】 ■外観観察:損傷の発生状況、き裂の発生箇所、変形量の計測、腐食状況の確認 ■破面観察:破断面を走査電子顕微鏡(SEM)で観察し、損傷形態を明らかにする ■ミクロ・マクロ観察:金属的な組織を観察し、問題点を明らかにする ■材質調査:化学分析を実施し、材質の妥当性を確認する ■機械試験:部材の機械試...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社IHI検査計測

  • 分析サービス『異物混入検査』 製品画像

    分析サービス『異物混入検査』

    かび・ガラス片・金属タワシなど、迅速かつ適切な調査・報告を行います

    【設備】 ■外観・形状観察  ・光学顕微鏡  ・走査型電子顕微鏡(SEM) ■無機成分分析  ・電子線マイクロアナライザー(EPMA)  ・熱分析(TG/DTA)  ・X線回折装置(XRD) ■有機成分分析  ・赤外分光分析装置(IR)  ・ガ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社分析センター 第一技術研究所

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