電子顕微鏡での受託観察

走査型電子顕微鏡（ＦＥ-ＳＥＭ）による表面観察を受託いたします：分解能…

【主要設備】 ・設備（機械名）：走査型電子顕微鏡（FE-SEM）　S-4000（日立） ・主な仕様 　倍率：　×100～300,000倍　（～100,000までは保証範囲） 　試料台サイズ：　15mm（径） 　加速電圧：　0.5～30ｋ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社魁半導体