カット野菜用異物除去装置『UDW-Fseries』

PR肉眼では見つけづらい同色の異物もピンポイントで検出・除去。機器選定のフ…

『UDW-Fseries』は、カット野菜を特殊赤外線カメラにより上下両面から検査し、 検出した異物をイジェクターでピンポイントに除去する装置です。 肉眼では見つけづらい同色の異物が混入している場合にも、高精度に検出・除去可能。 変色した葉の検出もできる、色彩検出機能が付いたタイプもラインアップしています。 ★他にも、様々な検出方式に対応した食品用異物除去装置を提供しています。 　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社服部製作所

【技術資料】ブラックシリコン冷却CMOSカメラシステム

冷却によりノイズを低減！波長1200nmまで対応し、半導体検査や成分分…

『CS-64NIR』は、冷却によりノイズを限りなく抑えた、 近赤外領域の感度が高いブラックシリコン冷却CMOSカメラシステムです。 InGaAsカメラのような輸出規制もありません。 波長1200nmまで受光可能なブラックシリコンCMOSセンサーを搭載することで 物質を透過させての撮影が可能となり、食品非破壊検査や成分分析、 生体イメージング、半導体検査といった幅広い検査・分析用途に活...

メーカー・取り扱い企業： ビットラン株式会社