一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
最終更新日:2016-02-15 11:53:56.0
【分析事例】有機EL素子Alq3層/発光層界面の評価
基本情報【分析事例】有機EL素子Alq3層/発光層界面の評価
TOF-SIMS深さ方向分析による劣化評価
分析の事例をご紹介します
【分析事例】有機EL素子Alq3層/発光層界面の評価
輝度が劣化した素子の有機層を大気に曝さずに前処理から深さ方向分析までを行った結果、通電後のサンプルではAlq3/発光層界面に拡散が見られました。
Slope Mapping(図1)およびイオンスパッタを利用した深さ方向分析(図2)の両方で同様の結果が得られています。 (詳細を見る)
取扱会社 【分析事例】有機EL素子Alq3層/発光層界面の評価
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