動的遠心加速度試験装置　Ｍｏｄｅｌ DAT-1

半導体デバイスの品質管理において、動作状況での加速度を印加し半導体デバイスの特性を測定する方法として、衝撃試験機の単独試験や振動試験機を用いた方法で行われてきました。しかし、これらの方法では印加加速度に限界があり、しかも連続的な高加速度を印加することができませんでした。
動的遠心加速度試験装置　Ｍｏｄｅｌ DAT-1は、これまでの培ってきた遠心式加速度試験装置の技術を応用し、高加速度の遠心力により印加し、半導体デバイスの特性を内部に組み込まれている無線により外部と通信し、動的特性を測定するシステムを開発しました。
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