半導体ウェハ加工サービス

半導体ウェハ加工サービス

産業、工業分野で研究開発された新材料の分析から
生産工程、品質管理基準等の分析・評価まで
イオンテクノセンターの熱分析は広範囲をカバー致します

【特徴】
○示差走査熱量分析(DSC法)
　・入力補償型のDSCを使用しているため、標準試料の測定が不要
　・試料測定と空セル測定の2回の測定で比熱が計算する事が可能
　・室温〜300℃までの測定が可能
　・融点、溶解潜熱、比熱容量、固相反応熱などの測定
○示差熱分析(DTA)
　・融点、溶解潜熱、比熱容量、固相反応熱などの測定が可能
　・鉄の融点測定が可能な高温タイプや
　　 　高速昇温が可能な赤外線加熱型など幅広いニーズにお応え

●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。