株式会社Wave Technology
最終更新日:2019-12-24 16:45:30.0
供試体の抵抗値をモニタ「導体抵抗自動モニタリングシステム」【マニュアル】
基本情報供試体の抵抗値をモニタ「導体抵抗自動モニタリングシステム」【マニュアル】
電子基板のはんだ接続部の劣化・クラックの抵抗値の変動をリアルタイム分析!
「導体抵抗自動モニタリングシステム」は、試験中の電子回路基板のはんだ接合部など、温度サイクル試験等で、供試体の抵抗値をモニタするシステムです。
劣化・クラックの抵抗値の変動がグラフで表示されるため、リアルタイム分析が可能です。
【特長】
■熱電対による試験槽の温度測定と、温度サイクル試験槽等のサイクル数カウントが可能
■試験槽のメーカー、機種、種類等に関わらず使用可能(液槽型の冷熱衝撃試験機等でも使用可能。)
■最大4台の温度サイクル試験槽を使った並行試験が可能。(熱電対入力4CH仕様。熱電対1CHにつき1試験槽に対応。)
※詳しくは、カタログをダウンロードしていただくか、お問い合わせください。
取扱会社 供試体の抵抗値をモニタ「導体抵抗自動モニタリングシステム」【マニュアル】
半導体およびその応用製品の開発・設計 ◇高周波・光半導体の設計・開発 ◇筐体・機構設計、シミュレーション ◇パワーエレクトロニクス関連設計・開発 ◇アナログ・デジタル電気回路の設計・開発 ◇カスタム計測システム設計、半導体パッケージ設計
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