一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
最終更新日：2023-03-27 09:29:44.0
【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査_C0198
基本情報【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査_C0198
TOFーSIMSによる剥離面の汚染源の特定
剥離不良が起こった際、界面の密着性を悪化させた成分を同定することが重要です。
ピーリング加工により、着目の界面で物理的に剥離させ、その表面に存在する成分をTOF-SIMSによって測定することで、剥離原因を調査することが可能です。
TOF-SIMSは有機物の構造を保ったままイオン化した二次イオンを検出し、剥離面に存在した成分が何由来なのかの情報を得ることができるため、剥離原因、及び工程の調査に有効です。
【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査
剥離不良が起こった際、界面の密着性を悪化させた成分を同定することが重要です。
ピーリング加工により、着目の界面で物理的に剥離させ、その表面に存在する成分をTOF-SIMSによって測定することで、剥離原因を調査することが可能です。
TOF-SIMSは有機物の構造を保ったままイオン化した二次イオンを検出し、剥離面に存在した成分が何由来なのかの情報を得ることができるため、剥離原因、及び工程の調査に有効です。
測定法：TOF-SIMS・ピーリング・解体
製品分野：LSI・メモリ・製造装置・部品
分析目的：化学結合状態評価・故障解析・不良解析
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取扱会社 【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査_C0198
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