一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
最終更新日:2016-03-01 11:39:52.0
【分析事例】GCIB(Arクラスター)を用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析
基本情報【分析事例】GCIB(Arクラスター)を用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析
雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価
分析の事例をご紹介します
【分析事例】GCIBを用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析
大気暴露することで劣化が生じる有機材料について、GCIB(Arクラスター)を用いて劣化成分を深さ方向に分析した事例を紹介します。実験には有機EL原料のルブレンを用いました。大気暴露したサンプルをTOF-SIMSで測定をした結果、ルブレンペルオキシドと推定される質量(m/z 564)や、低分子のベンゼン系の質量(m/z 77,105)が検出されました。これらの劣化に起因する成分は、表面から約1μm以上の深さにわたって存在していることを確認しました。※GCIB:Gas Cluster Ion Beam (詳細を見る)
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