「異物の成分分析・不良解析」

異物の成分分析・不良解析！異物混入の原因を究明しサポート

【掲載内容　※詳しくはカタログをご覧ください】
当社は、長年の分析を活かした経験により異物混入の原因究明を分析を通してサポートしております。

SEMによる形状観察は、光学顕微鏡より焦点深度、異物の微細な情報を得ることができ、写真上にミクロンバーが表示されるため異物の大きさも計測可能です。

【事例】
○試料外観察
○SEMによる形状観察
○EDXによる元素分析FT-IRによる有機化合物分析
○分析結果の報告