株式会社イオンテクノセンター
最終更新日:2019-06-14 23:35:56.0
分析装置『ESCA』によるマッピング
基本情報分析装置『ESCA』によるマッピング
当社のESCAはX線プローブ径を5μmまで絞れます!
『ESCA』は、X線プローブ径を5μmまで絞ることが可能な
X線光電子分光分析装置です。
X線を走査しながら照射することによって発生する二次電子像
(SXI:Scanning X-ray Image)により測定場所を特定して、局所的な
組成および化学結合状態の分析が可能です。また、面分析も可能です。
【特長】
■X線プローブ径を5μmまで絞ることが可能
■局所的な組成の分析が可能
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
分析装置『ESCA』
『ESCA』は、X線プローブ径を5μmまで絞ることが可能な
X線光電子分光分析装置です。
X線を走査しながら照射することによって発生する二次電子像
(SXI:Scanning X-ray Image)により測定場所を特定して、局所的な
組成および化学結合状態の分析が可能です。また、面分析も可能です。
【特長】
■X線プローブ径を5μmまで絞ることが可能
■局所的な組成の分析が可能
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る)
取扱会社 分析装置『ESCA』によるマッピング
分析装置『ESCA』によるマッピングへのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。