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最終更新日:2019-06-14 23:35:56.0

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分析装置『ESCA』によるマッピング

基本情報分析装置『ESCA』によるマッピング

当社のESCAはX線プローブ径を5μmまで絞れます!

『ESCA』は、X線プローブ径を5μmまで絞ることが可能な
X線光電子分光分析装置です。

X線を走査しながら照射することによって発生する二次電子像
(SXI:Scanning X-ray Image)により測定場所を特定して、局所的な
組成および化学結合状態の分析が可能です。また、面分析も可能です。

【特長】
■X線プローブ径を5μmまで絞ることが可能
■局所的な組成の分析が可能

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

分析装置『ESCA』

分析装置『ESCA』 製品画像

『ESCA』は、X線プローブ径を5μmまで絞ることが可能な
X線光電子分光分析装置です。

X線を走査しながら照射することによって発生する二次電子像
(SXI:Scanning X-ray Image)により測定場所を特定して、局所的な
組成および化学結合状態の分析が可能です。また、面分析も可能です。

【特長】
■X線プローブ径を5μmまで絞ることが可能
■局所的な組成の分析が可能

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る

取扱会社 分析装置『ESCA』によるマッピング

株式会社イオンテクノセンター

1.受託物理分析 2.イオン注入加工

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