ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社
最終更新日:2023-04-20 17:34:53.0
DDRメモリのパワーインテグリティの検証V 02.00
基本情報DDRメモリのパワーインテグリティの検証
DDRメモリのパワーインテグリティの検証
DDRメモリを搭載したエンベデッド・デバイスの電源、およびグランドレールの変動がある場合に信号の整合性を維持することは重要な課題です。
デジタル・オシロスコープ『R&S RTEシリーズ』測定事例付き!
『R&S RTEシリーズ』は、カーソル機能や自動測定機能など、
信頼性の高い測定結果を得るための機能を豊富に搭載。微小な電圧波形の観測に最適なデジタル・オシロスコープ。
さらにスマートなメニュー構造や、10.4インチの高解像度XGAタッチスクリーンを採用し、
操作性も抜群。組込みシステムのデバッグや電源解析といった用途で活躍します。
【「R&S RTE」特長】
■200 MHz/350 MHz/500 MHz/1 GHz/1.5 GHz/2 GHzと6種類のモデルをラインアップ
■5Gサンプル/sのサンプリングレートとチャネルあたり10Mサンプルのメモリ長を装備
■高確度なデジタル・トリガ・システム
■シングルコアA/D変換器によって高いダイナミックレンジを実現
■500μV/div.の分解能でも最大の帯域幅で測定
■業界最速クラスの波形更新レート100万波形/秒
※詳しくはカタログをご覧下さい。お問い合わせもお気軽にどうぞ。 (詳細を見る)
デジタル・オシロスコープ 「R&S RTE」
R&S RTE は、あらゆる測定用途で効果を発揮するオシロスコープです。
作業効率を向上させる充実した測定機能と、満足のいく測定結果を得られる確かな性能を備えた R&S RTE が、日常の測定業務に劇的な変革をもたらします。
帯域モデルは200MHzから2GHzまでをご用意、アナログ・フロントエンドは500μV/divの入力感度を実現します。
【特徴】
○サンプリングレートは5Gサンプル/秒、
1チャネルあたり最大200Mメモリで拡張可能で詳細な解析を可能にする
○波形更新スピード100万回/秒を誇る
○発生頻度の低い信号も確実に捕らえる
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。 (詳細を見る)
R&S RTO2000 デジタル・オシロスコープ
デジタル・オシロスコープ R&S RTO2000シリーズは、高度化する電気・電子機器の開発ニーズに対応した製品で、高機能、高性能、そしてマルチドメイン解析能力を搭載し、 直感的に使える最先端のデジタル・オシロスコープです。 (詳細を見る)
取扱会社 DDRメモリのパワーインテグリティの検証
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