エルミネット株式会社
最終更新日：2017-09-01 17:29:46.0
SC2000 イオンミリングシステム
基本情報SC2000 イオンミリングシステム
高エネルギーおよび低エネルギーイオン銃搭載SEM試料前処理システム
ミリング技術で立証された2種類のイオン銃が搭載されています。
広範囲の試料表面処理の要求に応じるべく設計された最新の試料前処理システムです。
【特長】
■高精度位置合わせ機構による測定領域の試料前処理
■迅速かつ容易な試料交換用ロードロックシステム
■パラメーター設定による簡昜操作
■オプションの冷却機構による低ダメージミリング
SC2000 イオンミリングシステム
ミリング技術で立証された2種類のイオン銃が搭載されています。
広範囲の試料表面処理の要求に応じるべく設計された最新の試料前処理システムです。
【特長】
■高精度位置合わせ機構による測定領域の試料前処理
■迅速かつ容易な試料交換用ロードロックシステム
■パラメーター設定による簡昜操作
■オプションの冷却機構による低ダメージミリング
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