電子部品スクリーニング用/信頼性評価用『バーンインシステム』

電子部品の初期故障品を見極め！高発熱対応型や省スペース型など多様な品揃え

大村技研の『バーンインシステム』は、半導体デバイスや電子部品に温度や
電気的ストレスを加え、初期故障品の選定に役立つシステムです。

量産品のスクリーニング用から信頼性評価用まで、デバイス品種/処理数、
印加信号等のニーズに沿った機能を付加したシステムの製作が可能です。

省スペースタイプや、高発熱デバイス対応型、低温試験対応タイプなど、
使用状況に合わせた種類をお選びいただけます。

【特長】
■初期故障品の見極めに
■量産品のスクリーニング用から信頼性評価用まで
■使用状況に合わせた特長を持った製品を選択可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。