ジャパンシステム株式会社
最終更新日:2020-12-04 11:33:38.0
高精細 画像診断システム
基本情報高精細 画像診断システム
ミクロの世界を探訪
ウエハ、フィルムのゴミ、ガラス印刷、プリント基板のパターン検査が可能。
測定、欠陥、ゴミ検出など基本のライブラリを使用し、対象に合わせた検査プログラムを作成します。
高精細 画像診断システム『CLIP MICRO』
ジャパンシステム株式会社では、画像処理、波形自動処理判定、お客様の
ニーズに従ったシステムを設計、製作し提供しています。
『CLIP MICRO』は、ウエハ、フィルムのゴミ、ガラス印刷、
プリント基板のパターン検査が可能な高精細画像診断システムです。
測定、欠陥、ゴミ検出など基本のライブラリを使用し、対象に合わせた
検査プログラムを作成します。
【特長】
■ウエハ、フィルムのゴミ、ガラス印刷、プリント基板のパターン検査が可能
■測定、欠陥、ゴミ検出など基本のライブラリを使用
■対象に合わせた検査プログラムを作成
■焦点:オートフォーカス
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る)
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