【加振周波数0.5Hz～350kHzまで】MEMSセンサー開発試験・出荷検査向け加振システム

CS18-VLFは低周波数用センサー校正装置です。地震計測等で必要となる超低周波数での加振が可能であり、必要なG出力も大振幅ストロークから可能にしています。耐震,制震,免震分野で構造物等の振動解析に必要とされる低周波帯域において地震計・加速度計等の校正が可能です。
　その他にも自動車、航空機等の輸送機やエレクトロニクス、産業機械、工作機械分野におけるモーダル解析等、応用範囲は多岐に亘ります。本校正機は民間二次校正用ですが、一次標準校正機（NISTトレーサブル）もご用意がございます。
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【基本スペック】
・周波数　0.5Hz～350kHz
・加速度　～600m/s2
・試験品重量　最大25kg
・サイン波、スイープ、フィールドデータ再現加振
・低周波数／磁場／温度／音響試験機など各種試験と組み合わせ可能
※数値はそれぞれ最大値です。装置構成、試験内容に依存します。


【用途例１　MEMSセンサー開発】
350kHzの超高周波数まで対応し、性能評価試験をはじめ固有振動数・共振周波数の探査などを行えます。
環境付加として磁場・温度・音響など各種環境試験装置とも組み合わせられ、様々な条件での試験を可能にします。


【用途例２　品質管理】
基盤製品の出荷試験・検査に適しており、不具合品の検知により品質水準の向上を見込めます。
最新機種「SE-16」や「SE-11」シェーカーでは5個までの試験品を同時に加振可能です。


【用途例３　モーダル解析】
高周波での振動解析以外にも低周波の機種では最大25kgの試験品まで搭載でき、構造体としての加振試験も可能です。
加振もサイン波、スイープ加振以外に実際の振動データを取り込みフィールド再現試験も可能です。 （詳細を見る）

【特徴】
SE-16、SE-11シェーカーは試験品をマウントする台座を直接加工することができ、同時に5つまでセットできます。
台座を直接加工することにより冶具を取り付ける必要がなく、高周波数での歪み・共振を低減しています。

【基本スペック】
●SE-16
・周波数　5kHz～100kHz
・加速度　～400m/s2
・試験品重量　～5グラム

●SE-11
・周波数　1kHZ～50kHz
・加速度　～400m/s2
・試験品重量　～10グラム

※数値はそれぞれ最大値です。装置構成、試験内容に依存します。 （詳細を見る）