『PTPブリスター外観検査システム PVIS BP』

高解像度カメラによってPTPブリスターシートの欠陥が高精度に検出可能

『PTPブリスター外観検査システム PVIS BP』は、高解像度カメラと
独自特許技術照明による高精度な検査を行います。

画像処理システムV-IPUによりオールインワンシステム(全機能集約)を実現。
PTPブリスターシートの様々な欠陥が独自技術による3ステージ検査で検出します。

また、従来カメラごとにCPUが1台ずつ必要だったものを一般的なCPUの
10数倍の処理能力を持つCPUに集約。培ってきた技術でその処理能力を
最大限に高めることにより大幅な省スペース・省電力化を実現しました。

【特長】
■独自技術による3ステージ検査
■画像処理照明電源の集約による省スペース化
■装置全体の小型化
■超高性能画像処理システムV-IPU搭載
■独自の画像処理システム

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。