光画像粒子測定器『HAVER CPAシステム』

材料の品質を正確に測定！高精度な光画像粒子分析が可能！

『HAVER CPAシステム』は省エネルギー＆低メンテナンス。
運用コストも低減しています。

PLC制御システムにすぐ接続でき、後に改造することなくオンライン工程に
組み入れることも可能です。

測定結果は、従来のふるい分析と同等あるいはそれ以上で、さらに測定結果の
高い再現性、大幅な時間短縮、粒形と粒数についての情報が得られるなど、
さまざまな利点があります。

【特長】
■材料の品質を正確に測定
■あらゆる場面で高精度測定
■充実の周辺機器
■特別な作業のための特別なソリューション
■豊富なラインアップ

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。