株式会社ティー・イー・エム
最終更新日：2023-11-22 14:22:53.0
ファイバー端面向け干渉計『ProView』
基本情報ファイバー端面向け干渉計『ProView』
精密な計測と検査が可能！ファイバー端面向け干渉計／マイクロスコープ
『ProView』は、クラッドの直径が125～720pmのファイバー端面の
精密な計測と検査を可能とする高度な干渉計です。
本製品は、 簡単・迅速・非常に正確な端面検査が必要とされる
生産ライン向けに設計されています。
R&D環境およびファイバークリーブ工程内の用途にも適しています。
融着スプライサ・クリーバ・および他の準備ツールと
並んで使用できるコンパクトな設計。
USB3.0ケーブルから電源供給され、お客様がお持ちのPCで駆動可能です。
【特長】
■見やすい二次元および三次元位置関係表示(topography)
■PCコントローラGUIからのFringe & Inspectionモード
■自動角度推定による非常に速い検査時間
■PASS/FAILクリーブ角度表示のオプション
■平面度、垂直度、異物(Hackles)、コンタミ等の端面状態の検査
■2D画像、3D画像やクリーブデータの取得と保存
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
干渉計『ProView』
『ProView』は、クラッドの直径が125～720pmのファイバー端面の
精密な計測と検査を可能とする高度な干渉計です。
本製品は、 簡単・迅速・非常に正確な端面検査が必要とされる
生産ライン向けに設計されています。
R&D環境およびファイバークリーブ工程内の用途にも適しています。
融着スプライサ・クリーバ・および他の準備ツールと
並んで使用できるコンパクトな設計。
USB3.0ケーブルから電源供給され、お客様がお持ちのPCで駆動可能です。
【特長】
■見やすい二次元および三次元位置関係表示(topography)
■PCコントローラGUIからのFringe & Inspectionモード
■自動角度推定による非常に速い検査時間
■PASS/FAILクリーブ角度表示のオプション
■平面度、垂直度、異物(Hackles)、コンタミ等の端面状態の検査
■2D画像、3D画像やクリーブデータの取得と保存
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）
取扱会社 ファイバー端面向け干渉計『ProView』
事業内容 1. 光学測定機器、レーザー光線発生装置等の理化学機器及びそれらの部品の輸出入及び国内販売並びに開発・試作・製造 2. 光ファイバー通信機器、光通信受信発信装置及びこれらに付随する周辺機器並びに部品の輸出入及び国内販売 3. 光学設計、制御設計、機構解析、通信等のソフトウェアの輸入販売 4. 上記各種セミナーの企画、運営 5. 前号に付帯する一切の業務 【主な取扱製品】 レーザースキャニング ガルバノスキャナ 高速ポリゴンスキャナ／スキャンヘッド 大口径ミラー搭載MEMSスキャナ 等 レーザー・光源 ファイバーレーザー 中赤外レーザー 半導体レーザー 等 加工・計測／分析 OCTシステム 小型レーザーラマンシステム 高速デジタイザ 等 オプティクス／ファイバー グレーティング 補償光学システム／波面補償ディフォーマブル鏡 光ファイバー 等 光学設計 波動光学設計ソフトウェア 「Wyrowski VirtualLab Fusion」 各種セミナー 等
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