DDR3データ・アイ・ダイアグラム・テスト

シグナルインテグリティー条件の解析に要する時間を大幅に短縮！

コンプライアンステストは、ダイナミック・ランダム・アクセス・
メモリ（DRAM）信号のタイミング、スルーレート、電圧レベルが
仕様に適合していることを確認する上で不可欠です。

アイダイアグラム・テストを利用してシグナルインテグリティー条件の
解析に要する時間を大幅に短縮することで、信号品質をすばやく
検査することができます。

以下のような課題を『DDR3データ・アイ・ダイアグラム・テスト』
により解決します。

【課題】
■シグナルインテグリティーの問題をすばやくデバッグできる柔軟性がない
■リード／ライトの分離が必要
■シンプルなマスクに基づいてテストを行うためのデータバースト内での
　連続ビットの重ね合わせ

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。