【技術資料】低真空SEM(接着界面の観察・評価)

真空蒸着などのコーティング処理を必要としない低真空SEMの観察・評価分析のご紹介！

当社では、分析ソリューション事業を行っています。

低真空SENでは、試料の前処理として真空蒸着などの
コーティング処理(前処理)を必要としません。

絶縁体や半導体、食品などの試料でもコーティング処理なく
低真空SEM観察後は、そのまま他の分析に供することが可能です。

【掲載内容】
■概要
■分析事例
・接着界面の観察・評価

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。