シナジーオプトシステムズ株式会社
最終更新日:2019-07-01 14:28:07.0
光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』
基本情報光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』
【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできます。
『M-Scope type HS』は、1~10Wクラス高出力レーザのNFP・
発光ビームプロファイル計測用光学系です。
計測対象サンプルから出射された光束は、対物レンズを通過後、
2段ビームサンプラーにて約99.99%程度に減光、結像レンズにて
2次元画像検出器に結像する方式を採用しています。
これにより、さまざまな対物レンズ倍率下で高出力レーザの
発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に計測することができます。
【特長】
■ビームサンプラー(対物レンズ後方2段)と減光フィルタの組合せにより
高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰
■さまざまな対物レンズ倍率の選択が可能
(M-Plan Apo NIR、M-Plan Apo NUVシリーズ各種対物レンズ)
■コリメート光計測が可能(対物レンズ無装着状態)
■同軸落射照明ポートを標準装備。同軸落射照明装置(オプション)との
組合せで顕微鏡画像観察・実像による位置合わせが可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』
『M-Scope type HS』は、1~10Wクラス高出力レーザのNFP・
発光ビームプロファイル計測用光学系です。
計測対象サンプルから出射された光束は、対物レンズを通過後、
2段ビームサンプラーにて約99.99%程度に減光、結像レンズにて
2次元画像検出器に結像する方式を採用しています。
これにより、さまざまな対物レンズ倍率下で高出力レーザの
発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に計測することができます。
【特長】
■ビームサンプラー(対物レンズ後方2段)と減光フィルタの組合せにより
高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰
■さまざまな対物レンズ倍率の選択が可能
(M-Plan Apo NIR、M-Plan Apo NUVシリーズ各種対物レンズ)
■コリメート光計測が可能(対物レンズ無装着状態)
■同軸落射照明ポートを標準装備。同軸落射照明装置(オプション)との
組合せで顕微鏡画像観察・実像による位置合わせが可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る)
取扱会社 光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』
シナジーオプトシステムズ株式会社は、光学技術とセンサ技術を基礎とした製品設計・製品開発を中核とし、光源、精密機構、MEMS、ソフトウエア制御等の周辺技術を付加・融合することにより、さまざまな目的・用途の光学機器・センサ・計測システムの開発を行う会社です。また、独自の光学設計技術・センサ技術・システム設計技術により、お客様のご要求仕様に合致した特殊光学系・センサ・専用システムのご提案と設計・製造も行っています。
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