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最終更新日:2024-11-11 12:26:30.0

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  • カタログ発行日:2023/12/01

光学特性検査システム "Swept Test System"

基本情報光学特性検査システム "Swept Test System"

高性能波長可変レーザー"TSL-570"とパワーメーターを組合わせることによってIL / WDL / PDLの効率的な測定を実現しました。

※英語版カタログをダウンロードいただけます。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

取扱会社 光学特性検査システム "Swept Test System"

santec Holdings株式会社

・santec AOC株式会社(光コンポーネント、光サブシステム、空間光変調器) ・santec LIS株式会社(波長可変光源、検査測定装置) ・santec OIS株式会社(波長可変光源、検査測定装置、医療機器) ・ネットワーク製品(PC遠隔支援、セキュリティL2スイッチほか)

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