平面枚葉検査装置『PIE-650M』

『PIE-650M』は、微細な欠陥から濃淡差の小さい欠陥まで高速、高精度に
検出することができる平面枚葉検査装置です。

搬送部はリニアモータによる搬送ロボットで、安定した搬送が可能。
異なる光学系の検査を一台で実現します。

フィルム、ガラス、金属箔、積層板、樹脂、銅板、鋼板、不織布、ゴム、
食品などの検査にご使用いただけます。

【特長】
■多様な欠陥検出が一台で可能
■対象物の大きさ、重さにとらわれないハンドリングを実現
■微細な欠陥から濃淡差の小さい欠陥まで高速、高精度に検出
■複数の欠陥をコンパクトなスペースで検査
■優れた操作性

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。 （詳細を見る）