ダイヤ電子応用株式会社
最終更新日:2022-12-15 17:50:05.0
CR Phantom
基本情報CR Phantom
CRスキャナーシステムの全関連パラメーターをテストできます
CR Phantomは、基本空間分解能、不鮮鋭度、コントラスト、MTF〈変調周波数〉、レーザービームジッタ、スキャナー・スリップ、シェーディングなど、CRスキャナーシステムの全関連パラメーターをテストできます。これらテストは、ASTM E 2445-05、ISO 16371-1、及びEN 14784-1規格で要求され、詳細に説明されており、定期的に行う必要がありますOWOTEST CR Phantomは、2本のデュプレックスワイヤタイプIQIを含み、これら規格要求を超過しています。 シェーディング補正の測定点は、パノラマとランスケープ両軸方向に配置されています。 必要な情報はすべて、1回のX線照射でイメージプレートにマッピングされます。CRファントムを回転させて第2軸情報を生成する必要はありません。 これにより、テストのスコアがより正確になり、時間を大幅に節約できます
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