カタログ発行日：2020/06/10

【分析事例】XPSによるSn表面の状態評価

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基本情報【分析事例】XPSによるSn表面の状態評価

価数別（2価,4価）の割合を算出することが可能です

スズメッキ、はんだ等、Sn（錫）は多くの電子部品に使用されています。
Sn表面のXPS分析では、通常評価に用いる3d軌道による定量・状態分析と併せ、4d軌道を用いることで酸化数（2価Sn2+(SnO)、4価Sn4+(SnO2)）を分離し、割合を算出することが可能です。また、価電子帯をみることで低価数状態（2価Sn2+(SnO)）が極僅かな場合でも敏感に検知することができます。
本資料では、はんだ表面について各軌道を用いてSnの評価を行った例を紹介します。

取扱会社【分析事例】XPSによるSn表面の状態評価

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