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最終更新日:2020-08-31 16:41:56.0

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  • カタログ発行日:2020/07/03

【分析事例】X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析

基本情報【分析事例】X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析

SAXSでは粒径や空孔径の統計的評価が可能です

金属ナノ粒子は、直径数十nm以下の粒子を指します。このサイズの粒子はバルクの金属には見られない特異な性質を示すことが知られています。高い触媒性や表面プラズモン共鳴のような光学特性から、燃料電池の電極触媒やバイオセンサー等に用いられています。これらの特性を制御するためには、構造や組成等を把握する必要があります。
今回はSAXS (X線小角散乱法) を用いて、Auナノ粒子分散溶液の粒径解析を実施した事例を紹介いたします。TEM とSAXSを相補的に用いることで信頼性の高い粒径解析を実施することが可能です。

取扱会社 【分析事例】X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析

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受託分析サービスで、研究開発を行う皆様をサポートします! 半導体・金属・電池などのエレクトロニクス材料や、医薬品・化粧品・食品・環境などのライフサイエンス分野に幅広く対応。 SIMS・TEM・XRD・ICP-MS・GC/MS・AES・SEM・EPMA・EELSなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 まずはご相談下さい。 ◆事業領域◆ 1. 科学技術分野における材料に関する基礎的研究及び解析・評価。 2. 半導体、生理学生化学、バイオ関連分野及び各種先端的分野についての基礎的研究及び解析・評価。 3. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の研究機関又は個人に対する表彰及び支援。 4. 1、2号に掲げる研究成果等の出版または出版の支援。 5. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の調査。 6. 1、2号に掲げる国内外における関連分野に関する研修の実施及び支援または研修所の運営。 7. その他目的を達成するために必要な事業。

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