No.19【資料】種々の測定手法によるカーボンブラックの構造評価

当資料では、カーボンブラックの物性評価を行ないます。

主にゴム・プラスチックの充填剤、顔料や電極材料に利用される
カーボンブラックは、ドメインよって構成される最小単位アグリゲートと、
それらが凝集したアグロメレートと呼ばれる構造をとることが知られています。

カーボンブラックの物性は主に粒子径、粒子表面性状、ストラクチャーです。

【特長】
■概要
■評価装置と評価項目
■測定試料
■考察
■まとめ
■測定結果

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当社が取り扱う、比表面積/細孔分布測定装置『BELSORP MINI X』を
ご紹介します。

最大4検体、測定時間の大幅短縮、マルチリンクによるハイスループットの
新機能を導入。

新測定ソフトウェアにより、測定進捗の把握、メンテナンス時期の把握や
測定結果をメールにて送付するなど、ユーザーの労働生産性を向上させ、
さらに新解析ソフトウェア(BELMasterTM7)により、これまで以上に幅広い
材料の構造評価を可能としました。

【特長】
■高精度・最大4検体同時測定
■測定時間の大幅短縮を実現
■ガス導入最適化機能GDOを搭載
■最少条件設定により吸着等温線を自動測定
■AFSM搭載により測定精度・再現性を向上

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『SYNC』は、高精度な粒子径分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒子径分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒子径分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒子径分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布（粒度分布）測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

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『SYNC』は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

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『SYNC』は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

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『SYNC』は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

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SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

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SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

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SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

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SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

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SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

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『BELPYCNO』は、ガス置換法を用いた真密度測定装置です。

Heなどの不活性ガスを置換し、圧力変化を測定することでさまざまな
サンプルの密度を測定します。

ガス置換による測定法ですので、試料の僅かな空隙や細孔まで拡散し、
正確な密度を短時間で求めることが可能。

高分解能密度測定、膨張室体積可変機構、グリースレスワンタッチ機構や
タッチパネルなどの新技術を採用し、精度と使い勝手を両立しています。

【特長】
■高分解能密度測定
■膨張室体積可変機構
■グリースレスワンタッチ機構
■タッチパネル
■JIS Z 8837とISO 12154に準拠

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SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

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SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

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SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

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１．CO2の分離・回収用の材料評価に
　• 高精度ガス／蒸気吸着量測定装置 BELSORP MAX X
　• 高精度ガス／蒸気吸着量測定装置 BELSORP MAX II
　• 触媒評価装置・ガス分析計 BELCAT II ＋ BELMASS II

２．CO2を排出しないクリーンエネルギー“電池” の材料評価に
　• 粒子径分布・形状測定装置 SYNC
　• 粒子径分布(粒度分布)・ゼータ電位測定装置 NANOTRAC WAVE
　• 比表面積・細孔分布測定装置 BELSORP MINI X
　• 真密度測定装置 BELPYCNO
　• 静的画像解析式 粒子径分布・形状測定装置 CAMSIZER M1

３．CO2の有効利用を目的としたセメント・コンクリートの材料評価に
　• 高精度ガス／蒸気吸着量測定装置 BELSORP MAX X
　• 真密度測定装置 BELPYCNO
　• 水銀ポロシメータ BELPORE
　• 粒子径分布・形状測定装置 SYNC

※詳しくはお問い合わせ下さい。また、デモ・サンプル分析も受付けております。お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

MicrotracMRBは、脱炭素社会、カーボンニュートラルの実現に向け、ナノスケールの粉粒体評価技術で貢献します。

• 粒子径分布・形状測定装置 SYNC
• 粒子径分布(粒度分布)・ゼータ電位測定装置 NANOTRAC WAVE
• 比表面積・細孔分布測定装置 BELSORP MINI X
• 真密度測定装置 BELPYCNO
• 静的画像解析式 粒子径分布・形状測定装置 CAMSIZER M1

※詳しくはお問い合わせください。また、デモ・サンプル分析も受け付けておりますので、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

Microtrac MRBのコア技術であるレーザ回折・散乱式と動的画像解析式を1台の装置に融合。
特許取得済のシンクロナイズ測定技術により、一度の測定で、粒子径分布と粒子形状の多角的な評価を実現しています。

【用途】
多種多様な適応材料、アプリケーション
電池材料、セラミックス、3Dプリンター用金属材料、ガラスビーズ、樹脂、建築材料（骨材、セメント）、製薬、食品、香粧品等

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BELSORP MINI Xは比表面積評価による導電材の性能把握が可能な製品です。
また、全固体電池の電極材料（酸化物・硫化物）を大気にさらすことなく比表面積や緻密性（細孔分布）の評価を実現しました。
近年、世界中でHe ガス供給不足が叫ばれている中、Heガスを利用せずに高精度な比表面積評価が可能な製品です。

【用途】
触媒・電池電極/導電材・カーボン・薬品・化粧品・セメント・トナー・顔料・セラミックス・半導体"

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粉粒体などの真密度測定おいて、1cc～10ccの試料セルを用いて少量の試料を精密に測定します。
真密度の評価により、粉粒体の空隙率評価や1次粒子径評価が可能となります。

【用途】
触媒・燃料電池・二次電池・繊維・高分子材料・薬品・顔料・化粧品・磁性粉・分離膜・フィルター・トナー・セメント・セラミックス・半導体・食品

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