【資料】ビーズミルによる微粒子化と高分子分散剤の分散効果

当資料は、酸化チタンの分散評価/ビーズミルによる微粒子化と高分子分散剤
の分散効果についてご紹介しています。

ここでは、酸化チタンを用いて、分散剤の効果と湿式ビーズミルによる
分散状態を、レーザ回折・散乱法＆動的画像解析法粒子径分布測定装置
「Microtrac Sync」、動的光散乱法(DLS)粒子径分布測定装置「Nanotrac Wave II」、
及び流動電位測定装置「Stabino」で評価した測定事例を紹介します。

【掲載内容】
■概要
■実験
■測定結果

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
 （詳細を見る）

『SYNC』は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

『SYNC』は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

『SYNC』は、高精度な粒子径分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒子径分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒子径分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒子径分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布（粒度分布）測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

『SYNC』は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

広がるナノの世界において、これまでお客様に定評のあった
UPAシリーズをさらに進化させ生まれたのが「NANOTRAC WAVE II」です。

測定原理としてヘテロダイン法、周波数解析法など先端技術を採用。

広範囲な濃度測定、高精度・高分解能を実現し、長年の経験の中で培われた
技術力と品質でナノに秘められた可能性をお客様にお届けします。

【特長】
■測定原理（動的光散乱法：DLS）
■低濃度から高濃度まで安定したデータ
■ヘテロダイン法の採用
■バックグラウンド測定
■独自の周波数解析アルゴリズムの採用

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を
1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。

3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の
高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。

円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、
フェレー径、等の評価が可能です。

【特長】
■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm
■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現
■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの
　粒子径分布測定
■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、
　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）