SFG（和周波発生）分光システム

非破壊・非接触で、表面(界面)の (固体・液体・気体)の分子振動解析が可能、デモ測定受付中

SFG （和周波発生）分光は、二次非線形光学効果を利用した振動分光法です。
この分光法は、高い界面選択性をもつため、表面もしくは界面の単分子層の分子振動構造・配向の解析が可能です。表面（界面）に赤外光の波長を掃引して測定することで分子をスペクトルより特定し、入射光と出射光の偏光を変えることにより分子配列を測定します。
赤外光の波長範囲は 4300～625 cm^-1 （2.3 μm～16 μm）、分解能は ＜6 cm^-1です。
位相・強度を測定できるPhase-Sensitive （位相敏感）SFGモジュールやSFG顕微鏡モジュールもあります。

弊社は「EKSPLA社・SFG分光システム」の日本総代理店です。

【特長】
・表面・界面の分子振動を解析 (構造・配向)
・各種界面の測定可能
　固体-気体
　固体-液体
　液体-気体
　液体-液体界面
・非破壊、非接触測定
・高感度検出：サブモノレイヤの計測可能
・埋没界面を含む多様な界面、表面を計測可能