＜カタログ＞SAXSサンプルステージ/ホルダーD21IP022JA-A

SAXSpaceは、ユーザーフレンドリーに設計されたナノ構造分析装置です。SAXSによるナノ構造分析をリードします。

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SAXSpaceは、ラボ機最強クラスのX線源と高品質のクラツキー光学系を採用したハイスループット小角X線散乱装置です。

アントンパール社が1957年に世界で初めて開発した小角X線散乱装置の技術(クラツキーカメラ)は、これまで様々な研究分野で活躍してきました。SAXSpaceはその発展型の光学系と強力なX線源を搭載し、最大で直径1000? の分子集合体やナノ粒子を短時間で観測できます。これまでは放射光施設での測定が必要だった希薄な溶液試料でも、試料ダメージを気にせずいつでも自由に測定できます。

【特長】
・ラボ機最強クラスのX線強度を誇るラインフォーカスX線ビーム
・優れたq範囲: 0.03 nm^-1 < q < 24.5 nm^-1(※1)
・優れた温度制御範囲と精度:-150℃ ~ +600℃ (精度±0.1℃)
・様々な測定雰囲気: 真空/空気（乾燥・調湿）/不活性ガス
・ポイントフォーカスX線ビームへの切替機構も標準搭載
・溶液、ペースト、ゲル、粉末など様々な試料に対応
（※1 2次元検出器搭載で最大40.7 nm^-1）
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SAXSpoint 5.0は、世界最高峰の小角分解能とボタン1つでSAXS⇔WAXSを瞬時に切り替えられる使いやすさを兼ね備えた多目的X線散乱装置です。

コンパクトな装置に搭載された最高品質の光学系とX線源により、短時間で最大600 nmの構造を観測することができます。また、液体・固体のSAXS/WAXS測定だけでなく、GISAXS、 USAXS、 RheoSAXSなど様々な測定環境を構築できます。これにより、従来は観測が困難だった巨大な散乱体の構造や特殊な環境下での挙動を明らかにし、研究開発にブレークスルーをもたらします。

【特長】
・ボタン1つで検出器がxyz方向に自由に移動 SlideMaster機能
・非常に幅広いq範囲: 0.01 nm^-1 < q < 49.3 nm^-1
・優れた温度制御範囲と精度:-150℃ ~ +600℃ (精度±0.1℃)
・様々な測定雰囲気: 真空/空気（乾燥・調湿）/不活性ガス
・メンテナンスフリーのマイクロフォーカスX線源
・粉末、 フィルム、 繊維、 溶液、 ペーストなど最大20検体を連続測定

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