高電圧試験ボックス

パワーエレクトロニクスやパワー半導体素子の高電圧実験時に、感電から身を守るための適した試験環境を提供します。
この高電圧試験ボックスは、IGBTやパワーMOS FET、ダイオード、トランジスタなど、さまざまな半導体デバイスを対象に、
安全に高電圧実験を行うために設計されています。
本製品は、九州工業大学の大村先生の
「パワーデバイス評価実験において、学生の安全を最優先に考えた試験環境を整えたい」
という熱い想いから生まれました。

【特長】
1. 扉の完全ロック機能：100V以上の高電圧試験中、扉が自動的にロックされ、誤って開けてしまうリスクを排除します。
2. 残留電圧の完全放電機能：試験後、扉を開放する前にコンデンサの残留電圧を完全に放電し、安全性を確保します。
3. 金属絶縁されたラック筐体：高い安全性を提供する金属絶縁された筐体を採用し、外部からの影響を最小限に抑えます。
4. 柔軟な対応が可能：卓上型ボックスへの変更や、実験の規模に応じたボックスの連結が可能で、様々なニーズに対応します。


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