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最終更新日:2022-07-07 11:33:34.0

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  • カタログ発行日:2022/7/7

【分析事例】X線回折・散乱技術を用いた高分子材料の階層構造評価_C0673

基本情報【分析事例】X線回折・散乱技術を用いた高分子材料の階層構造評価_C0673

SAXSとXRD (WAXS) を組み合わせることでラメラ等の構造解析が可能です

ラメラやミセルなどの構成要素である両親媒性物質は、化粧品・医薬品等の分野で広く用いられている材料です。この両親媒性物質が造り出す高次構造の違いにより皮膚組織に対する保湿性や浸透性が変化することが知られており、これらの構造を把握することは材料の機能性を評価する上で重要となります。
本資料では~数nmの構造にはXRD (X線回折法)を、~数十nmの構造にはSAXS (X線小角散乱法)を用いて、高分子の階層構造を評価した事例を紹介します。WAXS (X線広角散乱法)でも同様の評価が可能です。

取扱会社 【分析事例】X線回折・散乱技術を用いた高分子材料の階層構造評価_C0673

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受託分析サービスで、研究開発を行う皆様をサポートします! 半導体・金属・電池などのエレクトロニクス材料や、医薬品・化粧品・食品・環境などのライフサイエンス分野に幅広く対応。 SIMS・TEM・XRD・ICP-MS・GC/MS・AES・SEM・EPMA・EELSなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 まずはご相談下さい。 ◆事業領域◆ 1. 科学技術分野における材料に関する基礎的研究及び解析・評価。 2. 半導体、生理学生化学、バイオ関連分野及び各種先端的分野についての基礎的研究及び解析・評価。 3. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の研究機関又は個人に対する表彰及び支援。 4. 1、2号に掲げる研究成果等の出版または出版の支援。 5. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の調査。 6. 1、2号に掲げる国内外における関連分野に関する研修の実施及び支援または研修所の運営。 7. その他目的を達成するために必要な事業。

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