セイコーフューチャークリエーション株式会社
最終更新日:2022-09-09 09:59:56.0
【FE-SEM/EBSD/イオンミリング】断面加工と観察や構造解析に関する事例集2
基本情報【FE-SEM/EBSD/イオンミリング】断面加工と観察や構造解析に関する事例集2
微小部断面加工と分析、残留応力測定などイオンミリング、FE-SEM、EBSD等による多数事例をご紹介
当事例集では、『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。
「EBSDを用いたアルミスパッタ膜の評価」の分析事例をはじめ、
「イオンミリングによる微小部断面加工」の目的や手法、試料と結果、
「はんだ断面の残留応力測定」の目的や手法、結果など多数掲載。
他にも、配向評価や断面観察結果、測定などご紹介しています。
ぜひ、ご一読ください。
【掲載内容】
■EBSDを用いたアルミスパッタ膜の評価
■イオンミリングによる微小部断面加工
■はんだ断面の残留応力測定
■線材の残留応力測定
■冷却(クライオ)イオンミリング断面加工
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
取扱会社 【FE-SEM/EBSD/イオンミリング】断面加工と観察や構造解析に関する事例集2
各種、分析・試験の受託 (機器分析、集束イオンビーム加工、環境分析、材料試験、技術コンサルティング(材料・熱処理・表面処理 等)) 必要な情報やお困りごと等ありましたらぜひご連絡ください。 E-Mail:sfc-tr1@seiko-sfc.co.jp
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