【XPS/AES/GD-OES】表面分析に関する事例集1

表面の変化を科学的に調査分析可能です

当事例集では、『表面分析』にかかる事例をご紹介します。

「めっき基板の洗浄評価（GD-OES測定）」の目的や手法と結果をはじめ、
「XPSによる表面汚染分析」の特長や分析事例、「鉄サビの分析
（ラマン分光分析）」の特長や分析事例など多数掲載。

他にも、解析結果や状態解析、組成測定などご紹介しております。
ぜひ、ご一読ください。

【掲載内容】
■めっき基板の洗浄評価（GD-OES測定）
■XPSによる表面汚染分析
■酸化銅の状態解析（XPS・AES分析）
■鉄サビの分析（ラマン分光分析）
■変色したステンレスの組成調査

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。