【GD-OES測定】めっき基板の洗浄評価

GD-OES（グロー放電発光分析）によりNiめっきの膜厚、濃度の測定ができます

グロー放電発光分析法(Glow Discharge OpticalEmission Spectrometry:GD-OES)は、スパッタリングにより試料表面から原子を弾き出し原子をプラズマ状態に励起し、生じた発光を測定することで試料の組成を分析する方法です。

この事例では「めっき工程前の基板洗浄効果を調査」を紹介します。

ぜひPDF資料をご一読ください。

また、弊社では本GD-OESに加えXPS、オージェなどの各種表面分析を行っております。

お気軽にご相談いただければ幸いです。
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