【XPS】ポリイミド表面の汚染分析

X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため表面汚染・変色の分析や表面処理の評価に有効です

ポリイミドフィルムの表面が疎水性になるという不良が発生しましたが、SEM/EDX分析では得られる情報深さが深いため、最表面に存在する特異な元素は検出できませんでした。
そこで表面に敏感な手法であるX線光電子分光分析(XPS)による表面分析を実施しました。

この事例では「XPSによるポリイミド表面汚染分析」を紹介します

ぜひPDF資料をご一読ください。

また、弊社では本XPSに加えGD-OES、オージェなどの各種表面分析を行っております。

お気軽にご相談いただければ幸いです。
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